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芯片在研發(fā)過程中有哪些可靠性測試項目?

更新時間:2023-12-05      瀏覽次數(shù):861

芯片在研發(fā)過程中有哪些可靠性測試項目?

上海簡戶儀器設(shè)備有限公司是一家高科技合資企業(yè),專業(yè)生產(chǎn)銷售鹽霧箱、恒溫恒濕機、冷熱沖擊機、振動試驗機、機械沖擊機、跌落試驗機的環(huán)境試驗儀器的公司,是一家具有研發(fā)生產(chǎn)銷售經(jīng)營各類可靠性環(huán)境試驗設(shè)備的公司。經(jīng)驗豐富,并得到許多國內(nèi)外廠商的信賴與支持?,F(xiàn)在我們成為許多品牌的供應(yīng)商。


芯片的質(zhì)量主要取決于市場、性能和可靠性因素。首先,在芯片開發(fā)的早期階段,需要對市場進行充分的研究,以定義滿足客戶需求的SPEC;其次是性能,IC設(shè)計工程師設(shè)計的電路需要通過Designer模擬、DFT電路驗證、實驗室樣品評估和FT,認為性能滿足早期定義的要求;最后是可靠性,因為測試芯片只能確??蛻舻谝淮蔚玫綐悠?,所以需要進行一系列的應(yīng)力測試,模擬一些嚴格的使用條件對芯片的影響,以評估芯片的壽命和可能的質(zhì)量風險。


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大多數(shù)半導體器件的壽命在正常使用下可超過很多年。但我們不能等到若干年后再研究器件;我們必須增加施加的應(yīng)力。施加的應(yīng)力可增強或加快潛在的故障機制,幫助找出根本原因,并幫助 TI 采取措施防止故障模式。
讓我們來看看芯片可靠性測試比常見的幾種試驗:

01

加速測試

在半導體器件中,常見的一些加速因子為溫度、濕度、電壓和電流。在大多數(shù)情況下,加速測試不改變故障的物理特性,但會改變觀察時間。加速條件和正常使用條件之間的變化稱為“降額"。


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高加速測試是基于 JEDEC 的資質(zhì)認證測試的關(guān)鍵部分。以下測試反映了基于 JEDEC 規(guī)范 JEP47 的高加速條件。
如果產(chǎn)品通過這些測試,則表示器件能用于大多數(shù)使用情況。


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02

溫度循環(huán)

根據(jù) JED22-A104 標準,溫度循環(huán) (TC) 讓部件經(jīng)受高溫和低溫之間的轉(zhuǎn)換。進行該測試時,將部件反復(fù)暴露于這些條件下經(jīng)過預(yù)定的循環(huán)次數(shù)。


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03

高溫工作壽命HTOL

HTOL 用于確定高溫工作條件下的器件可靠性。該測試通常根據(jù) JESD22-A108 標準長時間進行。

04

溫濕度偏壓高加速應(yīng)力測試BHAST

根據(jù) JESD22-A110 標準,THB 和 BHAST 讓器件經(jīng)受高溫高濕條件,同時處于偏壓之下,其目標是讓器件加速腐蝕。
THB 和 BHAST 用途相同,但 BHAST 條件和測試過程讓可靠性團隊的測試速度比 THB 快得多。

05

熱壓器/無偏壓HAST

熱壓器和無偏壓 HAST用于確定高溫高濕條件下的器件可靠性。與 THB 和 BHAST 一樣,它用于加速腐蝕。不過,與這些測試不同,不會對部件施加偏壓。

06

高溫貯存

HTS(也稱為“烘烤"或 HTSL)用于確定器件在高溫下的長期可靠性。與 HTOL 不同,器件在測試期間不處于運行條件下。

07

靜電放電ESD

靜電荷是靜置時的非平衡電荷。通常情況下,它是由絕緣體表面相互摩擦或分離產(chǎn)生;一個表面獲得電子,而另一個表面失去電子。其結(jié)果是稱為靜電荷的不平衡的電氣狀況。
當靜電荷從一個表面移到另一個表面時,它便成為靜電放電 (ESD),并以微型閃電的形式在兩個表面之間移動。
當靜電荷移動時,就形成了電流,因此可以損害或破壞柵極氧化層、金屬層和結(jié)。

JEDEC 通過兩種方式測試 ESD


人體放電模型 (HBM)

一種組件級應(yīng)力,用于模擬人體通過器件將累積的靜電荷釋放到地面的行為。

帶電器件模型 (CDM)
一種組件級應(yīng)力,根據(jù) JEDEC JESD22-C101 規(guī)范,模擬生產(chǎn)設(shè)備和過程中的充電和放電事件。

可靠性測試設(shè)備介紹


實驗室快速溫變試驗箱

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設(shè)備參數(shù):

設(shè)備容積:408L

內(nèi)箱尺寸:800*600*850mm

溫度范圍:-70℃~160℃,

測量點:-70℃;160℃;

溫度變化速率:-70℃~160℃,≥15℃/min;

溫度變化速率:-40℃~85℃,≥15℃/min;


試驗曲線:

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適用于電子、電工產(chǎn)品整機及零部件進行溫度快速變化或漸變條件下的適應(yīng)性試驗,特別是針對于電子電工產(chǎn)品的環(huán)境應(yīng)力篩選(ESS)試驗,運用溫度加速技巧改變外在環(huán)境應(yīng)力,使產(chǎn)品產(chǎn)生熱應(yīng)力和應(yīng)變。


實驗室冷熱沖擊試驗箱

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二箱式冷熱沖擊試驗箱

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三箱式冷熱沖擊試驗箱


設(shè)備容積:150L(二箱)、198L(三箱)
內(nèi)箱尺寸:600*550*600mm
溫度范圍:-55℃~150℃;
測量點:-55℃,-40℃,-20℃,85℃,+125℃,+150℃

關(guān)于我們

上海簡戶儀器設(shè)備有限公司是一家高科技合資企業(yè),生產(chǎn)銷售鹽霧箱、恒溫恒濕機、冷熱沖擊機、振動試驗機、機械沖擊機、跌落試驗機的環(huán)境試驗儀器的公司,研發(fā)生產(chǎn)銷售經(jīng)營各類可靠性環(huán)境試驗設(shè)備。經(jīng)驗豐富,并得到許多國內(nèi)外廠商的信賴與支持。自公司成立以來,多次服務(wù)于國內(nèi)外大學和研究所等檢測機構(gòu),如清華大學、蘇州大學、哈爾濱工業(yè)大學、北京工業(yè)大學、法國申美檢測、中科院物理所、中科院,SGS等**單位提供實施室方案和設(shè)備及其相關(guān)服務(wù)。努力開發(fā)半導體、光電、光通訊、航天太空、生物科技、食品、化工、制藥等行業(yè)產(chǎn)品所需的測試設(shè)備裝置。公司擁有一支的研發(fā)、生產(chǎn)和售後隊伍,從產(chǎn)品的研發(fā)到售后服務(wù),每一個環(huán)節(jié)都以客戶的觀點與需求作為思考的出發(fā)點。




  • 為適應(yīng)市場快速變化及客戶多樣化的要求,上海簡戶儀器設(shè)備有限公司研發(fā)了性能與可靠性**JianHuTest產(chǎn)品系列.從精密零件到電腦資訊系統(tǒng)及有線無線通訊產(chǎn)業(yè),均可提供高品質(zhì)的設(shè)備與完善的售后服務(wù)。



  •  上海簡戶榮獲企業(yè),表明上海簡戶在技術(shù)、科技成果轉(zhuǎn)化、擁有自主知識產(chǎn)權(quán)等方面得到了國家的高度認可。簡戶一直秉承"服務(wù)以人為本"的宗旨,為廣大客戶提供精良的設(shè)備及優(yōu)質(zhì)的服務(wù),提供的送貨上門、安裝調(diào)試、一年的設(shè)備保養(yǎng)、終身維修,技術(shù)指導服務(wù)。始終如一的以"努力、合作、飛躍"的精神自我完善、不斷發(fā)展、讓客戶與公司實現(xiàn)雙贏局面。

  • 簡戶是集設(shè)計、銷售、研發(fā)、維修服務(wù)等為一體的綜合集團公司,從產(chǎn)品的研發(fā)到售后服務(wù),每一個環(huán)節(jié)之間,都以客戶的觀點與需求作為思考的出發(fā)點,提供的環(huán)境設(shè)備。公司創(chuàng)始人從事儀器設(shè)備行業(yè)20余年,經(jīng)驗豐富、資歷雄厚,帶領(lǐng)簡戶公司全體同仁攜手共建輝煌明天。公司成立以來,積極投入電子電工,航空,航天,生物科技,各大院校,及科研單位等行業(yè)所需的產(chǎn)品測試設(shè)備裝置。


  • 簡戶擁有一支的研發(fā)、生產(chǎn)和售后服務(wù)隊伍,從產(chǎn)品的研發(fā)到售后服務(wù),每一個環(huán)節(jié)都以客戶的觀點與需求作為思考的出發(fā)點,目前擁有博士學位2人,碩士5人,參與環(huán)境試驗箱國家標準起草和發(fā)行。企業(yè)制定標準,行業(yè)里通過ISO9001。是中國儀器儀表學會會員和理事單位。曾榮獲CCTV《中國儀器儀表20強品牌》殊榮,2010年入駐上海世博會民企館。簡戶自創(chuàng)辦以來,參與3項國家標準起草與制定,獲得40+件原創(chuàng)知識產(chǎn)權(quán)、軟著、集成電路),6次獲得上??萍夹椭行∑髽I(yè)稱號,合作過3200+家合作客戶(其中世界500強高校600家)。


  • 簡戶儀器今后必將牢記為客戶提供優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品和服務(wù)的宗旨,不忘為行業(yè)貢獻前沿科學和技術(shù)的初心,再接再厲,砥礪前行!

  • 【簡戶儀器簡介:成立2005年,是一家研發(fā),生產(chǎn),銷售及售后齊全的綜合性設(shè)備生產(chǎn)單位,多次評為科技型中小企業(yè),,客戶遍布高分子,汽車,半導體,塑膠,五金,科研院校,第三方檢測等】

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